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產(chǎn)品展示
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MICROTEST 7750系列 線圈匝間短路測試儀

描述：MICROTEST 7750提供1200V/5200V/10000V脈沖電壓輸出，200MHz/9bits高速取樣技術(shù)提供多種比對模式，包含總面積比對、面積差比對、電暈數(shù)比對、顫抖數(shù)比對、二階微分比對與波形比對模式，測試速度高達10次/秒，上自動線是最佳的選擇。針對小感量可選型7750-1層間短路測試儀搭載FX-IM0001四線式SMD元件測試治具，支援電壓補償功能，避免配線引起測試電壓誤差過大。

更新時間：2025-07-01
產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
詳情介紹

快速選型

型號

7750-1S

7750-1F

7750-5E

7750-5H

7750-5S

7759

7750-10S

通道數(shù)

1

9

1

脈沖電壓

10V-1200V

100V-5200V

200V-10000V

波形采樣率

200MHz/9 bit

200MHz/9 bit

50MHz/9 bit

100MHz/9bit

200MHz/9 bit

200MHz/9 bit

200MHz/9 bit

量測最小電感量

≥ 0.1μH

≥ 0.1μH

≥ 16μH

≥ 4μH

≥ 1μH

≥ 1μH

≥ 20μH

量測時間

10次/秒

崩潰電壓-BDV

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支持LAN界面

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波形分析

總面積比對

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面積差比對

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二階微分比對

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電暈數(shù)比對

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顫抖數(shù)比對

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波形比對

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產(chǎn)品特點

  • 最小電感值≥0.1μH

  • 電壓補償功能

  • 高速脈沖取樣率200MHz/9bits

  • 崩潰電壓測試

  • 穩(wěn)定極速測試：10次/秒

  • 可程序非破壞性脈沖電壓測試

  • 儀器內(nèi)建可儲存128組測試波形

  • USB Host快速存取測試畫面

  • 五種波形比對，檢測繞線元件層間短路不良








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